Импортный анализатор чистоты формы зерен BETTERSIZE Dandong BeVision M1

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进口 BETTERSIZE丹东百特 BeVision M1 粒度形状清洁度分析仪

进口 BETTERSIZE丹东百特 BeVision M1 粒度形状清洁度分析仪

Bettersizer S3 Plus 索取报价联系销售人员下载手册 Bettersizer S3 Plus 将激光衍射和动态图像分析功能集于一身，可测量 0.01 μm 至 3500 μm 的颗粒尺寸和形状。它对超细颗粒和超大颗粒均具有卓越的灵敏度，并拥有无与伦比的分辨率，使其成为从事顶级科学研究的科研人员最强大的尺寸和形状分析仪。 特点和优点 ●测量范围为0.01 - 3,500μm（激光系统）、2 - 3,500μm（图像系统） ●将激光衍射和动态图像分析结合在一台仪器中，同时获得尺寸和形状结果 ●专利的DLOI（双透镜和斜入射）系统可以测量小至0.01微米的超细颗粒 ●双摄像头成像技术，可实时显示颗粒图像，检测直径达3500微米的超大颗粒 ●折射率测量确定未知样品的折射率，提高结果的可靠性 ●符合 21 CFR 第 11 部分、ISO 13320、USP <429>、CE 视频 概述 配饰 引用 精选资源 评价 相关仪器 视频 如何安装和操作 Bettersizer S3 Plus Bettersizer S3 Plus | 力求完美，成就卓越 BT-A60 自动采样器 | 演示 Bettersizer S3 Plus 二合一粒度和形状分析仪演示 Bettersizer S3 Plus 二合一粒度和形状分析仪的基础知识 Bettersizer S3 Plus | 粒度和形状分析仪 Bettersizer S3 Plus 概览 | 力求完美，尽显卓越 概述 特征 表现 技术 规格 自动进样器 Bettersizer S3 Plus 粒度和形状分析仪概述  Bettersizer S3 Plus 是一款激光衍射粒度和形状分析仪，配备两个高速 CMOS 相机（放大倍数分别为 0.5 倍和 10 倍），用于捕捉被测样品的图像。测量过程中，分散在所选介质中的颗粒被泵入两个样品池。在第一个样品池中，短波激光 (532 nm) 照射颗粒并发生散射。96个探测器在 0.02° - 165° 的角度范围内检测光信号。CMOS 相机连续拍摄通过第二个样品池的颗粒图像，以提供2 至 3500 µm范围内的形状信息。 1. 专利DLOI（双透镜斜入射）系统：激光衍射  常规粒度分析中，激光衍射技术仍然是各工业领域的首选方法。Bettersizer S3 Plus 采用获得专利的 DLOI 系统，该系统基于傅里叶结构设计，可确保精确测量 0.01 μm 以上的超细颗粒。 特点和优点： 96 个探测器，角度范围广（0.02 - 165°），可准确测量超细颗粒  采用双镜头设计的坚固光学系统，具有卓越的分辨率  单个短波激光系统（532 nm）提供具有一致波长的连续散射光谱  固态光源所需的零稳定和预热时间 2. 双摄像头系统：动态图像分析  动态图像分析可提供独立于激光衍射的全面形状或形貌信息，从而加深您对材料的理解。双摄像头系统可有效追踪具有特定几何特性的单个颗粒，例如团聚体、破碎颗粒和异物颗粒。 特点和优点： 0.5 倍和 10 倍相机 - 可拍摄尺寸范围极广的颗粒  高速频闪灯 - 60 秒内捕捉多达 10,000 个粒子图像，提供真实的形状结果  适用于测量光学特性未知的异质样品 3. 突破性的组合：激光衍射与动态图像分析  Bettersizer S3 Plus 将激光衍射和动态图像分析功能集成到一台仪器中，可在宽动态范围内同时表征粒度、粒度分布和颗粒形状。协同工作，用户可以更深入地了解材料行为，从而加快故障排除和方法开发过程。 特点和优点： DLOI 系统 - 精确测量小至 0.01 μm 的超细颗粒 双摄像头成像系统——有效检测最大尺寸达 3,500 μm 的超大颗粒 二合一系统——同时获得颗粒尺寸和形状结果 快速获得结果——10 秒内快速生成结果 4. 应用  配饰 自动进样器 BT-A60 BT-A60 是一款耐用、自动化、高通量的采样系统。它可最大程度地实现实验室样品测量自动化，降低您的人工成本，同时提高生产效率和实验室效率。紧凑的设计节省了宝贵的台面空间，同时允许在单次运行中测量多达 60 个不同的样品。BT-A60 兼容 Bettersizer S3 Plus 和 Bettersizer 2600，提供全天候全自动样品分析，满足您各种分析应用的需求。 下载宣传单